WERTH為(wei) 2017年Control展隆重推出研發的傳(chuan) 感器係列：線色譜傳(chuan) 感器（Chromatic Focus Line Sensor, CFL）。其可以快速采集整個(ge) 零件的幾何形狀。通過選用不同的物鏡，調節測量誤差和測量範圍來適應各種應用需求。通過大的軸向測量範圍，不需要針對零件幾何形狀的可控的補充。以便通過掃描，快速並大麵積獲取零件幾何形狀。針對表麵有明顯高度變化的零件可以采用3D仿樣進行掃描。線色譜傳(chuan) 感器可以用於(yu) 測量漫反射、鏡麵和透明零件以及有較大傾(qing) 斜角的零件表麵。
CFL在零件表麵投影一排約200個(ge) 白色光點。從(cong) 零件表麵反射回的光線將通過光譜分析，確定傳(chuan) 感器和零件表麵之間的距離。通過新的線傳(chuan) 感器*次實現了高速並且高精度地、完整地采集零件3D數據。僅(jin) 僅(jin) 用3秒鍾就能夠測量100萬(wan) 個(ge) 測量點。
線色譜傳(chuan) 感器還具有另一個(ge) 有趣的功能：反射回的光的波長強度被分析評估，並創建零件表麵的柵格圖像。其後續的分析評估允許通過圖像處理軟件“在圖像內(nei) ”確定零件坐標係或者測量幾何特征。在此基礎上，由於(yu) 位置的確定，可以不需要傳(chuan) 感器轉換就使用各種其他傳(chuan) 感器進行測量。
在快速的測量速度下，CFL的測量度允許測量精密零件和微特征。該傳(chuan) 感器不僅(jin) 可以用於(yu) 鏡麵或者透明零件如衝(chong) 壓印模或者硬質合金及金剛石刀具的測量，也可以用於(yu) 漫反射的塑料零件的測量。通過高點密度來確定不同表麵的形貌。例如微機械零件手表表盤。CFL的另一個(ge) 典型應用是在半導體(ti) 技術領域，在生產(chan) 工序中，對於(yu) LED陣列的共麵的測量。作為(wei) 測量結果，是以點雲(yun) 的形式體(ti) 現零件表麵的完整形狀，借此測量平麵度或者粗糙度以及幾何元素。也可以用顏色編碼顯示出理論實際值偏差。
線色譜傳(chuan) 感器測量的點雲(yun) 數據和CAD模型的顏色編碼偏差顯示
手表表盤的柵格圖像