Werth FlatScope平麵零件光學掃描儀

Werth FlatScope平麵零件光學掃描儀(yi) 適於(yu) 工廠高速柵格二維掃描測量平麵類零件，如線路板、手機外殼、模板等。封閉式結構，平麵光源位於(yu) 頂部機蓋，CCD變焦係統位於(yu) 機器底部，快速聚焦於(yu) 大玻璃工作台表麵，可同時測量位於(yu) 工作台表麵各種不同類型零件。

Werth FlatScope平麵零件光學掃描儀(yi) ，在鋁型材行業(ye) 有著廣泛的應用，世界鋁型材企業(ye) 都在使用。

作為測量儀器，是當今世界上測量二維工件zui精確的二維掃描儀（申請中）.

主要特點：
◆ 高速的矩陣式掃描係統，適用於(yu) 生產(chan) 現場的二維測量
◆ 工業(ye) 圖像處理係統，掃描規則的幾何元素及自由輪廓
◆ 被測工件可任意位置放置
◆ 模塊化的測量軟件
◆ 利用投射光和透射光進行工件掃描
◆ 快捷方便的WinWerth評估軟件
◆ WinWerth軟件CAD在線和*公差擬合測量
◆ 平麵光源
◆ 精度采用高標準雙邊標定

技術參數：
測量範圍（玻璃工作台 尺寸）:
X = 400/650mm
Y = 200/400/600mm
zui大工件高度：Z = 100mm
光柵尺分辨率：0.1µm

測量機zui大允許誤差:

變焦:
1)E1: (2.5+L/120) µm
 E2: (2.9+L/100) µm

固定鏡頭 0.4x:
2)E1: (4.9+L/100) µm
 E2: (4.9+L/75) µm

固定鏡頭 0.2x:
2)E1: (9+L/100) µm
 E2: (9+L/75) µm

1)20℃±2o Δ=1o/h  5X鏡頭  2)20℃±2度　Δ=1度/h
依據標準 ISO 10360 和 VDI/VDE 2617