德國HOMMEL NanoScan高精密粗糙輪廓度測量儀

簡要描述：

德國HOMMEL NanoScan高精密粗糙輪廓度測量儀(yi)

產(chan) 品時間：2020-03-12

霍梅爾NanoScan高精密粗糙輪廓度測量儀(yi) 可以在一個(ge) 測量流程內(nei) 組合測量粗糙度和輪廓，柔性大，能夠滿足表麵測量技術的所有需求，既省時，又省費用。

技術特點	主要特點
?電子測頭臂識別技術	?超精密的光機探測係統
?探測頭的電子保護裝置	?通用性好
?電子調節探測力	?極富人性化的設計
?高精度的測頭臂定位	?測頭臂的選擇範圍廣
?可上下測量	?創新的技術 ?校準方法簡單 ?新的評價可能：可上下測量，測量工件表麵形貌時的測量行程大

校準方法
校準整個(ge) 係統時隻需一個(ge) 球形標準件

帶電子識別功能的測頭臂支架

由於(yu) 使用了磁性測頭臂支架，所以測頭臂的更換迅速可靠

可上下測量

測頭臂安裝了雙探測頭，所以一次運行可上下探測

選項

供貨範圍

?用於(yu) 特殊測量需求的粗糙度和輪廓測頭臂

?經過認證的qs-STAT接口（AQDEF）。

?輪廓標準塊KN8

?可保護測量係統免受環境影響的護罩

?帶22"TFT顯示屏的評價(jia) 電腦，CD刻錄器，粗糙度和輪廓測量評價(jia) 軟件

?具有自動保存功能的PDF打印機

?wavecontrol™basic操作麵板

?包含3個(ge) 帶金剛石探測頭或紅寶石測頭的測頭臂

?粗糙度標準塊RNDH2

?用於(yu) 緊固工件的測量台MT1 XYO

?校準用球形標準件