3D光學表麵輪廓粗糙度儀

TR-Scan 3D光學表麵輪廓粗糙度儀(yi)

TR-Scan係列非接觸表麵微觀形貌(粗糙度)測量儀(yi) ，係統采用TRIMOS技術數字全息三維顯微測量技術(DHM)，廣泛應用於(yu) 高精密微觀表麵檢查。與(yu) 傳(chuan) 統非接觸測量技術相比，測量速度快，對震動不敏感，真正的實現三維形貌納米級測量。模塊化的設計理念，可配置共焦顯微係統, 探針測量係統，傳(chuan) 感器直接更換，方便快捷，極大的滿足了不同的應用範圍。即可用於(yu) 計量單位和材料科學研發實驗室，也廣泛應用在工業(ye) 製造領域：汽車、航天、航空、表麵塗層、醫療產(chan) 品、微型電機係統、半導體(ti) 等行業(ye) 。

3D光學表麵輪廓粗糙度儀(yi) 主要特點：
◆ 非接觸式測量原理，無損化檢測粗糙度，微觀形貌
◆ *的數字全息三維顯微技術，真正實現3D微觀形貌測量
◆ 創新的成像原理，從(cong) 原理上保證了對外界振動不敏感，Z軸分辨率高
◆ 激光找正工件並自動定位，測量速度快 
◆ 模塊化的設計概念，多種光學光路原理，直接更換傳(chuan) 感器，不需要調整，方便快捷
◆ 可非標定製相應的測量頭，滿足不同客戶的特殊工件測量要求
◆ 即可選用數字全息技術實現高精密表麵測量，也可選用色譜共焦技術實現微觀輪廓測量或選用接觸式探針實 現內(nei) 壁粗糙度測量
◆ 慣用了Trimos“智能用戶界麵”的理念，測量過程全 自動，操作簡單
◆ 采用專(zhuan) 業(ye) 的3D形貌分析軟件，功能強大，即可實現2D輪廓測量，也可進行3D形貌分析
◆ 可進行編程批量檢測並自動生成分析報告
◆ *兼容2D標準，並已內(nei) 置即將製定的3D標準

軟件特點：
TRIMOS NanoWare軟件，擁有的評價(jia) 標準程序來實時更新標準測量符合以下標準：ISO (4287、4288、11562、1101、12085、13563等)，法國標準NF，製造標準CNOMO，ASME (B46.1) 和DIN標準；三維表麵特征數據標準ISO 25178係列同樣有效。

TRIMOS® NanoWare LT特點：
用於(yu) 二維輪廓粗糙度測量分析的基本模塊。操作簡便，包含用於(yu) 表麵檢查，分析形貌，粗糙度和波紋度測量的重要功能。
◆ 常用參數要求數據Ra、Rq、Rt、線性材料曲率
◆ 過濾方式、水平、放大
◆ 所有測量可複現三維形貌
TRIMOS® NanoWare STT：  
◆ 3軸測量基本模塊. 包含分析輪廓的所有功能及       符合ISO 25178表麵分析   
◆ 3D基本參數(Sa, Sq, St, Smr, ...)   
◆ 表麵圖形仿真   
◆ 距離, 高度及角度測量   
◆ 成型, 拉平, 視圖等濾波器   
◆ zui終結果管理   
◆ 測量點管理/再采集   
◆ 輪廓提取, 體(ti) 積測量 
TRIMOS® NanoWare PRO：  
2D及3D表麵特征評估zui完整版本。此模塊綜合了表麵測量領域15年以來的經驗。
◆ 市場上zui高性能的軟件   
◆ 表麵圖層研究   
◆ 3D形貌鑒定   
◆ 表麵及輪廓統計分析及研究 

可選測頭：

TR-Scan 3D光學輪廓粗糙度儀(yi) 應用示例：