工業CT掃描儀
簡要描述：
德國WERTH TOMO工業(ye) CT掃描儀(yi) 可實現產(chan) 品無損可視化準確測量，並可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳(chuan) 感器。對工件內(nei) 外部所有結構尺寸全麵的高精密測量，同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、複合材料、金屬等多種材質製成的產(chan) 品進行無損尺寸測量和裝配評估等。
產(chan) 品時間：2022-11-04
Werth將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量係統，可實現產(chan) 品無損可視化準確測量，並可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳(chuan) 感器。對工件內(nei) 外部所有結構尺寸全麵的高精密測量，同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、複合材料、金屬等多種材質製成的產(chan) 品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時，保證了高品質的要求。
德國WERTH TOMO工業(ye) CT掃描儀(yi) 主要特點：
◆ 將X射線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量係統，實現複雜部件高精度內(nei) 外尺寸全麵測量
◆ 可選配第二個(ge) Z軸，配置其他傳(chuan) 感器（光學、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公司技術複合式傳(chuan) 感器技術，進一步保證 CT測量數據更準確
◆ 堅固的花崗岩基座，保證機器具有高穩定性
◆ 高精密機械軸承技術及線性導軌係統，確保實現zui 高精度的測量
◆ 無論從(cong) 設計還是結構，測量機*並超出X射線使用安全標準
◆ 基於(yu) Werth公司優(you) 異的圖形處理及3D重構技術，測量速度更快
◆ Werth公司技術的X射線傳(chuan) 感器獨立校準係統
◆ Werth公司技術的柵格斷層掃描技術：
精密測量微小部件
掃描更大尺寸工件，提高分辨率
擴展測量範圍
◆ 測量軟件可快速3D重構，也可進行2D測量
◆ 測量工件內(nei) 部尺寸的同時，也可實現材質缺陷分析
◆ 選用廣泛應用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標準認證) ，界麵友好，操作簡單
◆ 可使用*擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對
◆ 廣泛應用於(yu) 複雜尺寸測量，*評估，逆向工程，質量控製等
應用領域: 模具行業(ye) 、逆向工程、汽車行業(ye) 、航空航天、精密機械加工、船舶等。
德國WERTH TOMO工業(ye) CT掃描儀(yi) 技術參數：
型號 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大測量工件尺寸(直徑) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測量高度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允許誤差 (用CT傳(chuan) 感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大允許誤差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平麵精度) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射線源可選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射線探測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作台承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀(yi) 器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據標準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量或CT傳(chuan) 感器選擇同等及更高精度探針修正或光學傳(chuan) 感器選用同等及更高精度探針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射線穿透能力：
Werth*的用於(yu) 高精度、高分辨率測量的穿透型標靶射線源。此標靶在高管電壓（如300KV）和大管電流的情況下能夠長時間穩定地保持微米級的焦點尺寸，這樣就能用微米級焦點的X射線快速的高精度、高分辨率進行測量高密度（如鋼）較大尺寸的零件。
| 類別 | TomoScope | ||||
| 射線源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
| 鋼/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
| 鋁 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
| 塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
| 射線管 | 關 | 關 | 開 | 開 | 開 |
| 光源類型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
| 光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) |
應用實例：
