平麵度的測量方法

平麵度，是屬於(yu) 形位公差中的一種，指物體(ti) 表麵具有的宏觀凹凸高度相對理想平麵的偏差。在傳(chuan) 統的檢測方法中，平麵度的測量方法通常有：塞規/塞尺測量法、液平麵法、激光平麵幹涉儀(yi) 測量法（平晶幹涉法）、水平儀(yi) /數字水平儀(yi) 測量法、以及打表測量法。

　　塞尺測量法，隻需一套可隨身攜帶的塞尺就可隨時隨地進行平麵度的粗測。目前很多工廠仍使用該方法進行檢測。由於(yu) 其精度不高，常規zui薄塞尺為(wei) 10um，檢測效率較低，結果不夠全麵，隻能檢測零件邊緣。

　　液平麵法，基於(yu) 連通器工作原理，適合測量連續或不連續的大平麵的平麵度，但測量時間長，且對溫度敏感，僅(jin) 適用於(yu) 測量精度較低的平麵。

　　激光平麵幹涉儀(yi) 測量法，zui典型的用法是平晶幹涉法。但主要於(yu) 測量光潔的小平麵的測量，如千分頭測量麵，量規的工作麵，光學透鏡。

    丹青公司聯合德國LAMTECH的推出非接觸激光平麵度測量儀(yi) ，LAMTECH平麵度快速測量儀(yi) ，采用掠入射光幹涉原理，專(zhuan) 注於(yu) 高精密加工表麵平麵度快速測量評估, 廣泛應用於(yu) 航空航天，汽車工業(ye) 噴油嘴行業(ye) ，泵、閥門密封件表麵，以及光學工程，激光工程等領域

      德國LAMTECH平麵度測量儀(yi) 快速測量平麵度的測量方法，高效快速，即可以用於(yu) 車間現場全檢測，也可以用於(yu) 實驗室平麵度測量研究。

　　水平儀(yi) 測量法，廣泛用於(yu) 工件表麵的直線度和平麵度測量。測量精度高、穩定性好、體(ti) 積小、攜帶方便。但是用該方法測量時需要反複挪動儀(yi) 器位置，記錄各測點的數據，費時、費力，調整時間長，數據處理程序繁瑣。

　　打表測量法，典型應用為(wei) 平板測微儀(yi) 及三坐標儀(yi) ，其中優(you) 以三坐標儀(yi) 為(wei) 應用zui廣泛。測量時指示器在待測樣品上移動，按選定的布點測取各測量點相對於(yu) 測量基準的數據，再經過數據處理評定出平麵度誤差。但其效率較低，通常一個(ge) 樣品需要幾分鍾，離15ppm的期望相差甚遠。