薄膜測厚儀

簡要描述：

瑞士SYLVAC薄膜測厚儀(yi) 用於(yu) 測量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據測量材料可選擇不同測力範圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N，高分辨率0.01μm。

產(chan) 品時間：2020-06-30

適用於(yu) 電子行業(ye) ，光伏行業(ye) ，醫療行業(ye) ，新能源汽車行業(ye) ，鋰電池行業(ye) 用於(yu) 測量薄膜厚度，具有精度高，測量效率快的特點。

而且這款薄膜測厚儀(yi) 可實現數據傳(chuan) 輸，支持數據導入導出，很方便的將數據進行采集及分析，可追溯性強，滿足車間現場已經實驗室對於(yu) 薄膜的測量需求。

分辨率：0.1μm

測力：0.3-1.3N（根據需要選擇）

分辨率：1μm

測力：0.4-1.6N（根據需要選擇）

薄膜測厚儀(yi)