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Lamtech激光平麵度測量儀

Lamtech激光平麵度測量儀

簡要描述:

德國Lamtech激光平麵度測量儀(yi) ,采用掠入射光幹涉原理,專(zhuan) 注於(yu) 高精密加工表麵平麵度快速測量評估, 廣泛應用於(yu) 航空航天,汽車工業(ye) 噴油嘴行業(ye) ,泵、閥門密封件表麵,以及光學工程,激光工程等領域。

產(chan) 品時間:2020-07-24

Lamtech激光平麵度測量儀(yi)

    LAMTECH平麵度快速測量機,采用掠入射光幹涉原理,專(zhuan) 注於(yu) 高精密加工表麵平麵度快速測量評估, 廣泛應用於(yu) 航空航天,汽車工業(ye) 噴油嘴行業(ye) ,泵、閥門密封件表麵,以及光學工程,激光工程等領域。

    TOPOS 100 是一款非接觸式平坦度測量儀(yi) 器,用於(yu) 精密製造表麵,具有亞(ya) 微米精度。 TOPOS 平坦度測量儀(yi) 器滿足 客觀工作測量工具的要求,用於(yu) 精密部件(例如燃油噴射 係統、泵或閥門)的生產(chan) 和質量控製。

       Lamtech激光平麵度測量儀(yi) 允許對研磨、 精加工和拋光精密部件進行非接觸式平坦度測量。 TOPOS 幹涉儀(yi) 根據光的放牧率原理運行。 也可以測量較粗糙的部件的平坦度,光學平麵或菲佐幹涉儀(yi) 沒有更多的條紋圖案。 計算機根據幹擾模式計算測試對象的平坦度。 在研磨或研磨部件旁邊也可以測量拋光部件。 部件可以由多種材料組成: -金屬(鋼,鋁,青銅,銅等) -陶瓷 (Al2O3, 碳化矽, 碳化矽等) -塑料材料 -等 幹涉儀(yi) 可放置在生產(chan) 線上,靠近加工機。 在整個(ge) 測量區域內(nei) ,精度高達 0.1µm。

平麵度檢測儀(yi) 技術參數:

型    號

TOPOS 50

TOPOS 100

測量範圍(直徑)

50mm

100mm

參考平麵平麵度

優(you) 於(yu) 0.06μm

參考麵材料

石英玻璃

靈敏度

0.5,1,2或4μm每紋

精度

(0.1??0.4)um + 2%x測量值, 基於(yu) 靈敏度

Z軸波動範圍

低於(yu) 100um, 表麵斜度所限製

FLTt重複性

優(you) 於(yu) 0.01μm1)

分辨率

優(you) 於(yu) 0.01μm

數據采集量

300,000點

測量時間

小於(yu) 2s

整體(ti) 尺寸

560mm X 300mm X 400mm

680mm X 440mm X 880mm

重量

34kg

80kg

 

應用示例:

 

 

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