瑞士SYLVAC薄膜厚度測量儀
簡要描述：
瑞士SYLVAC薄膜厚度測量儀(yi) 用於(yu) 測量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據測量材料可選擇不同測力範圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N，高分辨率0.01μm。
產(chan) 品時間：2020-12-29
瑞士SYLVAC薄膜厚度測量儀(yi)
薄膜測厚儀(yi) 用於(yu) 測量較軟或較硬材料薄膜厚度，根據測量材料可選擇不同測力範圍滿足不同測量任務需求。低測力可達0.06N，高分辨率0.01μm。
瑞士SYLVAC薄膜厚度測量儀(yi) 廣泛應用於(yu) 醫藥、新能源電池等薄膜厚度測量，測量精度高，效率高，而且可將測量數據時時導出，傳(chuan) 到手機，電腦、pad等多種方式。
瑞士丹青公司不僅(jin) 有這種簡便的膜厚測量儀(yi) ，也有精度更高的台式膜厚測量儀(yi) ，滿足客戶不太的測量需求，可隨時谘詢我們(men) 。
 | 分辨率：0.1μm 測力：0.3-1.3N（根據需要選擇） |
 | 分辨率：1μm 測力：0.4-1.6N（根據需要選擇） |
 | 分辨率：0.01μm 測力：0.06-0.8N（根據 |